StructureScan^TM Mini XT手持式三維地質(zhì)雷達(dá)儀

手持式三維地質(zhì)雷達(dá)儀Mini XT是GSSI公司研發(fā)和生產(chǎn)的新產(chǎn)品,廣受歡迎的一體式地質(zhì)雷達(dá)系統(tǒng)。它內(nèi)置2.7GHz天線(xiàn)，具有較好的目標(biāo)體分辨率,大探測(cè)深度可達(dá)50厘米。用于探測(cè)鋼筋位置、導(dǎo)線(xiàn)管、去應(yīng)力電纜、空洞，實(shí)時(shí)計(jì)算混凝土板厚度等信息。

●集成式工具

一體式混凝土檢測(cè)工具：內(nèi)置天線(xiàn)，定位系統(tǒng)、控制單元*的觸摸屏

界面和六個(gè)按鈕控制鍵，方便操作

●堅(jiān)固緊湊的設(shè)計(jì)

新一代產(chǎn)品防護(hù)等級(jí)為IP65，能夠承受工地苛刻的檢測(cè)環(huán)境

●系統(tǒng)靈活性

產(chǎn)品提供多個(gè)附件，提供多種測(cè)量選項(xiàng)和數(shù)據(jù)采集模式

●價(jià)值

合格的價(jià)格、完美的性能，的售后服務(wù)支持

 特征

結(jié)構(gòu)掃描地質(zhì)雷達(dá)Mini XT可用于混凝土結(jié)構(gòu)檢測(cè)中對(duì)金屬和非金屬目標(biāo)體進(jìn)行定位和計(jì)算深度，包括鋼筋，導(dǎo)線(xiàn)管，去應(yīng)力電纜，空洞和服務(wù)設(shè)施。另外，MINi XT可幫助識(shí)別結(jié)構(gòu)體包括板梁、混凝土保護(hù)層、混凝土板厚度。

高頻，高分辨率混凝土天線(xiàn)
•結(jié)構(gòu)檢測(cè)地質(zhì)雷達(dá)Mini XT采用新設(shè)計(jì)的2.7 GHz天線(xiàn)，天線(xiàn)底殼離地高度為8 mm，預(yù)留離地空隙允許天線(xiàn)在粗糙混凝土表面測(cè)量更方便。該天線(xiàn)提供較好的淺表分辨率，同時(shí)能夠探測(cè)到深部目標(biāo)體。

增強(qiáng)的數(shù)據(jù)可視化
• *的數(shù)據(jù)可視化技術(shù),6.5英寸高清觸摸屏,具有多種操作方式，適合于新用戶(hù)和用戶(hù)。
• 一鍵啟動(dòng)QuickScan快速采集數(shù)據(jù)，或者選擇其他數(shù)據(jù)采集程序,包括ScanMax和Scan3D并進(jìn)行數(shù)據(jù)解釋工作。
• 手持式結(jié)構(gòu)掃描地質(zhì)雷達(dá)Mini XT,用戶(hù)根據(jù)需求顯示數(shù)據(jù),有多個(gè)顏色表選項(xiàng)可供客戶(hù)選擇。采集軟件內(nèi)置實(shí)時(shí)偏移歸位功能、屏幕參考標(biāo)記、實(shí)時(shí)有效信號(hào)底跟蹤指示。

可擴(kuò)展設(shè)計(jì)
• 設(shè)備預(yù)留三個(gè)附件接口，擴(kuò)展連接多種設(shè)備。延長(zhǎng)桿附件具有六個(gè)遙控操作按鈕，是地面測(cè)量和墻面測(cè)量的理想配件。

典型應(yīng)用

•混凝土檢測(cè): 探測(cè)并定位在墻體、地板和天花板內(nèi)的金屬和非金屬目標(biāo)體
•結(jié)構(gòu)檢測(cè): 橋梁，古建筑物，墻體，塔，隧道，陽(yáng)臺(tái)，車(chē)庫(kù)等結(jié)構(gòu)體
•環(huán)境評(píng)估: 混凝土內(nèi)部結(jié)構(gòu)成圖評(píng)估其狀態(tài)并制定加固和修復(fù)計(jì)劃
•測(cè)量混凝土板厚度
•空洞探測(cè)

結(jié)構(gòu)掃描地質(zhì)透視儀XT采集模式

手持式掃描地質(zhì)透視儀Mini XT包含三種數(shù)據(jù)采集模式：簡(jiǎn)易、標(biāo)準(zhǔn)和。

簡(jiǎn)易模式用于快速數(shù)據(jù)采集，只需簡(jiǎn)單選擇測(cè)量深度和混凝土類(lèi)型參數(shù)即可開(kāi)始掃描。

標(biāo)準(zhǔn)模式具有兩種應(yīng)用：Scan3D和ScanMax

模式提供XScan和DualScan應(yīng)用來(lái)進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)據(jù)解釋

顯示功能

●Scan3D：創(chuàng)新的三維圖形顯示，從5個(gè)角度顯示，類(lèi)似于X射線(xiàn)圖像。

●XScan：3D方式中，顯示兩個(gè)正交二維剖面

●DualScan:比較2個(gè)平行的二維原始剖面或偏移聚焦處理后的剖面。

2D數(shù)據(jù)采集

結(jié)構(gòu)掃描地質(zhì)透視儀Mini XT數(shù)據(jù)顯示直觀，多種色彩主題顯示，圖像保存功能和實(shí)時(shí)顯示調(diào)整。 

技術(shù)指標(biāo)